知识扫描电镜知识大全 SEM (知识扫描电镜图片)

文章编号：622 / 分类：技术教程 / 更新时间：2024-12-14 04:24:32 / 浏览：次

扫描电镜（sem）是一种强大的显微观察技术，它通过发射高能电子束并与样品表面相互作用来获取图像。

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它通过二次电子、背散射电子及特征X射线等信号，提供对样品表面形态和特征的观察与分析。

作为一种介于透射电镜和光学显微镜之间的技术，SEM允许我们观察到微观世界的表面细节。

02. 扫描电镜（SEM）的工作原理SEM的工作原理依赖于高能电子束与样品表面的相互作用。

当入射电子轰击样品时，会激发产生多种信号，如二次电子、背散射电子和特征X射线。

这些信号经过放大和处理，最终在显示器上形成图像，以供分析和研究。

03. 扫描电镜（SEM）的设备构成SEM由多个系统组成，包括电子光学系统、信号收集与处理系统、信号显示与记录系统、真空系统以及计算机控制系统。

这些部件协同工作，确保SEM能够高效地进行高分辨率的表面成像。

04. 扫描电镜（SEM）的应用SEM在多个领域有着广泛的应用，如材料学、物理学、化学、生物学、考古学、地矿学以及微电子工业等。

它能够用于观察纳米材料、分析材料断口、观察大尺寸试样、观察厚试样、观察试样的细节、在大视场下观察样品、进行连续观察、观察生物试样、进行动态观察以及从试样表面获取多方面材料信息等。

05. 扫描电镜（SEM）的分析实例通过SEM，我们可以获得高分辨率的图像，这些图像不仅具有较高的立体感，而且能够清晰地揭示在光学显微镜下难以观察到的细节。

例如，在珠光体和回火组织中，SEM能够清晰地显示Fe3C和碳化物的形态。

06. 扫描电镜（SEM）对样品的要求及制备方法样品的制备是SEM观察前的关键步骤，包括取样、清洗、粘样和镀膜处理等。

对于不同类型的样品，制备方法也会有所不同，以确保样品能够适应SEM的观察要求。

07. 扫描电镜（SEM）的优缺点SEM具有较高的放大倍数和景深，能够直接观察各种试样的表面结构。

它还可以配备多种附件，如能谱仪和背散射电子衍射附件，以进行更深入的分析。

然而，SEM也有其局限性，如分辨率不如透射电镜和原子力显微镜，且只能观察样品表面，无法获取内部结构信息。

此外，SEM观察需要真空环境，这限制了样品的种类。